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上海艾斯达电子
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供应德国KD卡尔德意志LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 分体式镀层涂层测厚仪
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪
德国KD卡尔德意志
10000UM
18840.0
相关产品
产品信息
LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪
德国KD公司致力于研发和制造无损检测产品-65年
按客户需求量身定做的涂层测厚仪
多样的探头,可满足不同形状工件的涂层厚度的测量
中国设有售后服务中心,维修无后顾之忧
LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042具有精准的测量技术和简单的操作方法,是的涂层测厚仪。通过解锁代码,可以使仪器在现场迅速的升级。
可定制带系统的涂层测厚
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。
仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求,是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。
彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
特点概述:
大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯
校准选项:
l 出厂时已校准,立即可用
l 在未知涂层上校准
l 零校准
l 在无涂层的基体上一点和多点校准
l 在有涂层的基体上校准
校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中,也可以随时调出
可选择的显示模式,以形式去完成测量任务
输入和极限监视*
在Windows下有简单的存储读数档案管理
可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport
统计:
l 可统计评估999个读数
l 值、值、测量个数、标准偏差和极限监视
l 局部厚度和平局膜层厚度(DIN EN ISO 2808)
l 在线统计,所有统计值概括
LEPTOSKOP 2042 有3种配置级别:
基本型 – 证明质量的基本特征
型 - 附加统计评估
型 - 统计评估和数据存储
如果针对新的测量要求,而需要仪器增加新的功能,可以在任何时候把仪器升级为型和/或型。升级只需在现场输入解锁代码,“统计”和/或“统计& 数据存储”,便可完成;而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。
通过解锁代码可以很方便的升级
◆ 数据传输接口RS232 或 USB
◆ 电源:电池、充电电池、USB或外接电源
◆ 测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
◆ 测量速度: 每秒测量2个数值
◆ 存储: 多 9999 个数值,140个文件
◆ 误差:
涂层厚度 < 100 um: 1% 读数 +/- 1 um (校准后)
涂层厚度 > 100 um: 1-3% 读数 +/- 1 um
涂层厚度 > 1000 um: 3-5% 读数 +/- 10 um
涂层厚度 > 10000 um: 5% 读数 +/- 100 um
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪附件:
试块和膜片
探头定位装置 (适用于微型探头)
定位辅助装置 (适用于微型探头)
电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理
电脑软件 EasyExport 用于把单独的读数或全部文件传输到Windows
技术参数: